孕婦X線檢查是否會致小兒智力低下
孕婦X線檢查是否會致小兒智力低下
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孕婦X線檢查會致小兒智力低下
早已證實，孕婦在胚胎器官發(fā)生的敏感期(妊娠3～8周)接受過大劑量的X線照射，不僅可以使胚胎發(fā)育遲緩，骨骼畸形，甚至可造成流產(chǎn)或死胎。12周以后雖然大部分器官已經(jīng)形成，但牙齒、生殖腺及中樞神經(jīng)系統(tǒng)還在繼續(xù)發(fā)育中，對于接受X線以后的反應(yīng)也很難肯定。故作為妊娠婦女，常規(guī)體格檢查的胸部透視現(xiàn)在都主張應(yīng)該推遲到妊娠7個月以后再進行。美國芝加哥產(chǎn)院曾在1948年對1000名懷孕晚期的孕婦進行X線攝片骨盆測量，19年后隨訪這些孕婦所生的子女，并沒有發(fā)現(xiàn)智力低下和神經(jīng)系統(tǒng)的疾病，說明妊娠晚期作X線攝片對胎兒無不良影響。但是，從劑量大小來講，攝片卻比透視所帶給胎兒的影響更小。所以，如果需要用X線來判斷母親或胎兒是否存在一些異常情況時，傾向于選擇拍片。
不論怎么說，一旦孕婦患有急性病癥而且必須通過X線檢查才能作出診斷時，還是應(yīng)該從孕婦的安全出發(fā)，采取必要的檢查手段，待病情穩(wěn)定后再考慮孩子的問題。而一般情況下，懷孕早期應(yīng)該絕對禁止接受X線照射以及其他的電離輻射(如物理治療等)，否則可能造成胚胎異常而致孩子智力障礙。
遺傳發(fā)育所揭示智力低下的神經(jīng)發(fā)育分子調(diào)控機制
人類的大腦由1000億個神經(jīng)元組成，神經(jīng)元與神經(jīng)元之間通過多達(dá)10000個神經(jīng)突觸相互連接形成一個龐大而復(fù)雜的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，從而行使大腦的功能。因此，神經(jīng)突觸的發(fā)育和功能是神經(jīng)生物學(xué)研究的核心內(nèi)容。脂質(zhì)的主要生理功能是儲存能量、構(gòu)成細(xì)胞膜組份以及調(diào)控膜信號轉(zhuǎn)導(dǎo)。脂質(zhì)在神經(jīng)系統(tǒng)中富集，且對神經(jīng)系統(tǒng)的發(fā)育和功能起著極其重要的作用。脂代謝異常導(dǎo)致多種神經(jīng)精神疾病。例如參與脂肪酸在體內(nèi)活化利用的第一步關(guān)鍵酶脂酰輔酶A合成酶(acyl-CoA synthetase long-chain family member 4, ACSL4)突變后特異性地導(dǎo)致智力低下而不影響其他生理功能。但是ACSL4及其所調(diào)控的脂質(zhì)如何影響神經(jīng)發(fā)育以及ACSL4突變后導(dǎo)致智力低下的發(fā)病機理目前還遠(yuǎn)不清楚。
ACSL4蛋白序列在進化上高度保守。中國科學(xué)院遺傳與發(fā)育生物學(xué)研究所張永清組的研究發(fā)現(xiàn)果蠅ACSL4同源蛋白Acsl突變后導(dǎo)致三齡幼蟲的神經(jīng)肌肉突觸過度生長。進一步的研究表明，Acsl突變體中的突觸過度生長是由于促進突觸生長的BMP(bone morphogenetic protein)信號通路活性異常升高所致。神經(jīng)發(fā)育過程中的信號轉(zhuǎn)導(dǎo)受到精細(xì)的調(diào)控?；罨腂MP受體需要經(jīng)過Rab11介導(dǎo)的內(nèi)涵體循環(huán)進行滅活，從而抑制BMP通路的信號轉(zhuǎn)導(dǎo)。該研究發(fā)現(xiàn)Acsl突變體中，循環(huán)內(nèi)含體(recycling endosome)膜中的蛋白組份異常，與膜結(jié)合的Rab11降低，從而抑制內(nèi)含體對BMP信號轉(zhuǎn)導(dǎo)的負(fù)調(diào)控，最終導(dǎo)致神經(jīng)突觸過渡生長。這一研究揭示了ACSL4在神經(jīng)突觸發(fā)育過程中的功能及其分子調(diào)控機制，也為進一步深入研究脂質(zhì)在神經(jīng)系統(tǒng)中的功能以及相關(guān)神經(jīng)精神疾病包括智力低下等的發(fā)病機制提供了理想的切入點。
熱性驚厥
有人證明，一次驚厥發(fā)作對近記憶力有一過性影響，相當(dāng)于腦震蕩所致?lián)p害。驚厥持續(xù)狀態(tài)可產(chǎn)生嚴(yán)重腦損害，而致智力低下。因為在驚厥性放電時，腦組織有大量的神經(jīng)元發(fā)生快速、反復(fù)的脂除極化，需較多的能量維持鈉?鉀泵的功能，神經(jīng)遞質(zhì)的合成與釋放也增加，細(xì)胞代謝過程加快......
腦損傷可以引起驚厥，驚厥發(fā)作也可造成腦損傷。有人證明，一次驚厥發(fā)作對近記憶力有一過性影響，相當(dāng)于腦震蕩所致?lián)p害;驚厥持續(xù)狀態(tài)可產(chǎn)生嚴(yán)重腦損害，而致智力低下。因為在驚厥性放電時，腦組織有大量的神經(jīng)元發(fā)生快速、反復(fù)的脂除極化，需較多的能量維持鈉?鉀泵的功能，神經(jīng)遞質(zhì)的合成與釋放也增加，細(xì)胞代謝過程加快，而且驚厥時體溫升高，肌肉抽搐也使全身代謝增加，高熱可使動物腦代謝增加25%，這些活動所需能量比正常高出2～4倍。腦的異常放電活動即驚厥放電本身對能量的需要也明顯增加，這也是引起腦損傷的一個重要原因。所以驚厥給腦造成了最大的代謝負(fù)擔(dān)。
熱性驚厥為小兒驚厥中最常見的一種，預(yù)后一般良好，引起智力低下的發(fā)生率很低，這是因為一般單純性熱性驚厥，發(fā)作次數(shù)少、時間短、恢復(fù)快、無異常神經(jīng)征，因此驚厥發(fā)作時對大腦的影響較少。但是其中有少數(shù)患者可以引起智力低下，目前對此有兩種解釋，一種認(rèn)為嚴(yán)重的熱性驚厥可以引起腦損傷，以致出現(xiàn)癲癇及智力低下，這是指驚厥持續(xù)時間越長，驚厥復(fù)發(fā)次數(shù)越多，出現(xiàn)腦損傷的可能性就越大。另一種觀點認(rèn)為，在熱性驚厥前，神經(jīng)系統(tǒng)已出現(xiàn)異常，這種小兒即使不發(fā)生熱性驚厥也會出現(xiàn)智力低下，即認(rèn)為熱性驚厥病兒的神經(jīng)系統(tǒng)癥狀并非驚厥本身所致，而是存在于熱性驚厥起病之前，熱性驚厥與智力低下并非因果關(guān)系，而是共同原因所決定的。
另外驚厥引起腦損傷和年齡也有密切關(guān)系。小兒驚厥持續(xù)30分鐘以上就可以產(chǎn)生神經(jīng)元缺血性改變，而成人驚厥超過6小時才發(fā)生這種改變。這是因為嬰幼兒時期腦組織代謝活躍，神經(jīng)細(xì)胞處于生長、分化旺盛時期，正在發(fā)育的腦組織最易受損害，所以驚厥發(fā)病年齡越早，其智力低下的發(fā)生率可能會越高。
總之熱性驚厥之前如已有神經(jīng)系統(tǒng)異常，可能導(dǎo)致將來的智力低下，嚴(yán)重驚厥本身也能引起腦損傷而影響智力。
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