光纖測(cè)試方法
光纖測(cè)試方法
光纖檢測(cè)的主要目的是保證系統(tǒng)連接的質(zhì)量,減少故障因素以及故障時(shí)找出光纖的故障點(diǎn)。檢測(cè)方法很多,主要分為人工簡(jiǎn)易測(cè)量和精密儀器測(cè)量。下面具體來(lái)了解下:
光纖測(cè)試方法之人工簡(jiǎn)易測(cè)試:
這種方法一般用于快速檢測(cè)光纖的通斷和施工時(shí)用來(lái)分辨所做的光纖。它是用一個(gè)簡(jiǎn)易光源從光纖的一端打入可見(jiàn)光,從另一端觀察哪一根發(fā)光來(lái)實(shí)現(xiàn)。這種方法雖然簡(jiǎn)便,但它不能定量測(cè)量光纖的衰減和光纖的斷點(diǎn)。
光纖測(cè)試方法精密儀器測(cè)試:
使用光功率計(jì)或光時(shí)域反射圖示儀(OTDR)對(duì)光纖進(jìn)行定量測(cè)量,可測(cè)出光纖的衰減和接頭的衰減,甚至可測(cè)出光纖的斷點(diǎn)位置。這種測(cè)量可用來(lái)定量分析光纖網(wǎng)絡(luò)出現(xiàn)故障的原因和對(duì)光纖網(wǎng)絡(luò)產(chǎn)品進(jìn)行評(píng)價(jià)。
用OTDR進(jìn)行光纖測(cè)量可分為三步:參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)獲取和曲線(xiàn)分析。人工設(shè)置測(cè)量參數(shù)包括:
(1)波長(zhǎng)選擇(λ):
因不同的波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)不同的光線(xiàn)特性(包括衰減、微彎等),測(cè)試波長(zhǎng)一般遵循與系統(tǒng)傳輸通信波長(zhǎng)相對(duì)應(yīng)的原則,即系統(tǒng)開(kāi)放1550波長(zhǎng),則測(cè)試波長(zhǎng)為1550nm。
(2)脈寬(Pulse Width):
脈寬越長(zhǎng),動(dòng)態(tài)測(cè)量范圍越大,測(cè)量距離更長(zhǎng),但在OTDR曲線(xiàn)波形中產(chǎn)生盲區(qū)更大;短脈沖注入光平低,但可減小盲區(qū)。脈寬周期通常以ns來(lái)表示。
(3)測(cè)量范圍(Range):
OTDR測(cè)量范圍是指OTDR獲取數(shù)據(jù)取樣的最大距離,此參數(shù)的選擇決定了取樣分辨率的大小。最佳測(cè)量范圍為待測(cè)光纖長(zhǎng)度1.5~2倍距離之間。
(4)平均時(shí)間:
由于后向散射光信號(hào)極其微弱,一般采用統(tǒng)計(jì)平均的方法來(lái)提高信噪比,平均時(shí)間越長(zhǎng),信噪比越高。例如,3min的獲得取將比1min的獲得取提高 0.8dB的動(dòng)態(tài)。但超過(guò) 10min的獲得取時(shí)間對(duì)信噪比的改善并不大。一般平均時(shí)間不超過(guò)3min。
(5)光纖參數(shù):
光纖參數(shù)的設(shè)置包括折射率n和后向散射系數(shù)n和后向散射系數(shù)η的設(shè)置。折射率參數(shù)與距離測(cè)量有關(guān),后向散射系數(shù)則影響反射與回波損耗的測(cè)量結(jié)果。這兩個(gè)參數(shù)通常由光纖生產(chǎn)廠(chǎng)家給出。
參數(shù)設(shè)置好后,OTDR即可發(fā)送光脈沖并接收由光纖鏈路散射和反射回來(lái)的光,對(duì)光電探測(cè)器的輸出取樣,得到OTDR曲線(xiàn),對(duì)曲線(xiàn)進(jìn)行分析即可了解光纖質(zhì)量。