如何檢測(cè)內(nèi)存條是否被擊穿

　　現(xiàn)在很多電腦(臺(tái)式機(jī)、筆記本)在使用過(guò)程中可能會(huì)遇到進(jìn)水、受潮或者電壓過(guò)高、靜電以及雷擊等造成的電腦內(nèi)存損壞的情況，那么如何檢測(cè)內(nèi)存條是否被擊穿了呢.下面是學(xué)習(xí)啦小編跟大家分享的是如何檢測(cè)內(nèi)存條是否被擊穿，歡迎大家來(lái)閱讀學(xué)習(xí)。

　　如何檢測(cè)內(nèi)存條是否被擊穿

　　工具/原料

　　萬(wàn)用表

　　內(nèi)存條

　　筆記本

　　方法/步驟

　　筆記本電腦DDRⅢ內(nèi)存是否擊穿的檢測(cè)方法是，+1.5v測(cè)99、100、105、106pin;+

　　0.75v測(cè) 203、204pin;+3.3v測(cè) 199pin;“地”是 2、3pin。

　　筆記本電腦 DDRⅡ內(nèi)存是否擊穿的檢測(cè)方法是，+1.8v 測(cè) 111、112pin;+3.3v 測(cè) 199pin; “地”是 2、3pin

　　臺(tái)式機(jī)電腦DDRⅢ 240pin內(nèi)存是否擊穿的檢測(cè)方法是，+1.5v測(cè)182、183pin;+0.75v

　　測(cè) 120、240pin;+3.3v測(cè) 236pin;“地”是 199、229pin

　　4臺(tái)式機(jī)電腦DDRⅡ240pin內(nèi)存是否擊穿的檢測(cè)方法是，+1.8v測(cè)172、178pin;+3.3v

　　測(cè)238pin;“地”是219、222pin。